X Международный фотоконкурс «Русская цивилизация» - 29.06.2026

С 28 июня по 12 октября Федеральное агентство по делам национальностей проводит X Международный фотоконкурс «Русская цивилизация», цель которого — содействие гармонизации межнациональных отношений и этнокультурному развитию народов нашей страны.

Юбилейный конкурс приурочен к празднованию Года единства народов России.

Популярность проекта, объединяющего фотографов не только из субъектов Российской Федерации, но и всего мира, продолжает расти. С каждым годом фотоконкурс становится масштабнее. В 2025 году было направлено более 19,5 тысяч фоторабот.

В проекте могут принять участие как профессиональные фотографы, так и любители в возрасте от 18 лет. Победители будут определены в семи номинациях: «Уникальная природа», «Лица и поколения», «Традиции большой страны», «Архитектура и скульптура», «Духовные скрепы», «Семейные ценности», специальная номинация Дома народов России «Россия — семья семей», а также гран-при за лучшую фотографию и Приз зрительских симпатий.

По результатам фотоконкурса жюри, в состав которого входят известные в России и мире номинанты и лауреаты профессиональных премий, заслуженные деятели культуры, художники, актеры, фотожурналисты, назовут лучшие работы.

Награждение победителей состоится в преддверии празднования Дня народного единства на одной из популярных площадок города Москвы.

Подробнее о конкурсе и номинациях на сайте: rucivilization.ru/


Вернуться к списку новостей Версия для печати
Фотогалерея





Свидетельство Роскомнадзора ЭЛ № ФС77-73336 от 24 июля 2018

187342, Ленинградская область, Кировский район, г. Кировск, ул. Новая, д. 1
Телефон редакции: 8(81362) 23-842
E-mail: press@kirovsk-reg.ru

Учредитель: Администрация Кировского муниципального района Ленинградской области

При использовании материалов сайта, ссылка на kirovsk-reg.ru обязательна
Во время посещения официального сайта Кировского муниципального района Ленинградской области вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ.
Подробнее.